東芝開始出貨1200V溝槽柵SiC MOSFET測試樣品

作者 | 發(fā)布日期 2026 年 05 月 21 日 15:12 | 分類 碳化硅SiC

5月21日,東芝電子元件及存儲裝置株式會社(“東芝”)宣布,開始提供1200V溝槽柵SiC MOSFET——“TW007D120E”的測試樣品出貨,該產(chǎn)品主要面向下一代AI數(shù)據(jù)中心電源系統(tǒng),同時也適用于可再生能源相關(guān)設(shè)備。

隨著生成式AI的快速發(fā)展,功耗不斷上升已成為數(shù)據(jù)中心面臨的緊迫課題。尤其是高功率AI服務(wù)器的廣泛應(yīng)用以及800V高壓直流(HVDC)架構(gòu)部署的增加,推動了市場對更高功率轉(zhuǎn)換效率和更高功率密度電源系統(tǒng)的需求。針對下一代人工智能數(shù)據(jù)中心的這些需求,東芝開發(fā)了TW007D120E,該產(chǎn)品將有助于降低功耗,并實現(xiàn)電源系統(tǒng)的小型化和更高效率。

TW007D120E采用東芝專有的溝槽柵結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了業(yè)界領(lǐng)先的單位面積低導(dǎo)通電阻(RDS(on)A);其通過更低的導(dǎo)通電阻降低導(dǎo)通損耗,同時實現(xiàn)更低的開關(guān)損耗。與東芝現(xiàn)有產(chǎn)品相比,TW007D120E將RDS(on)A降低了約58%,品質(zhì)因數(shù)(導(dǎo)通電阻×柵漏電荷,即RDS(on)×Qgd,代表導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗之間的平衡)提高了約52%。這些特性將幫助數(shù)據(jù)中心電源系統(tǒng)實現(xiàn)高效運行并減少發(fā)熱,從而提升整體系統(tǒng)效率。

這有助于提高功率密度并增強功率級的散熱性能,這對下一代AI數(shù)據(jù)中心的功率轉(zhuǎn)換至關(guān)重要。

東芝計劃在2026財年實現(xiàn)TW007D120E的量產(chǎn),并將繼續(xù)拓展其產(chǎn)品線,包括面向汽車應(yīng)用的產(chǎn)品開發(fā)。憑借這款溝槽柵SiC MOSFET,東芝將助力數(shù)據(jù)中心及各類工業(yè)設(shè)備提升能效、降低二氧化碳排放,為低碳社會的實現(xiàn)做出貢獻(xiàn)。

(集邦化合物半導(dǎo)體整理)

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